X光绕射分析 (XRD)

X光绕射分析(X-ray diffraction analysis, XRD) 是透过X光与晶体的绕射产生图谱，并从图谱数据库比对，即可推论出材料晶体的排列结构、晶体排列的方式和奈米晶粒大小，以及单晶、多晶薄膜材料的结晶性分析等，为评估材料特性的一种非破坏式分析仪器。

X-ray 送样要求：

 1、粉末样品：原则上须小于300目（小于45μm）；

 2、块体样品：不高于30mm;

 3、高温测试样品：样品必须具有很好的稳定性，不会在加热或真空状态下发生剧烈分解或释放出有毒气体等

X-ray检测现场测试预约请致电：

Helen  尹海英

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